Tavkhelidze, A. (2013) Influence of Nanostructure Geometry on Electronic Properties. In: 13th International Symposium on Advanced Materials (ISAM-2013). (გაგზავნილია გამოსაქვეყნებლად)
![[img]](http://eprints.iliauni.edu.ge/style/images/fileicons/slideshow.png) |
სლაიდ შოუ
ISAM_2013_KN.pptx Download (2MB) |
| ობიექტის ტიპი: | სემინარის ან კონფერენციის მოხსენება (მოხსენება) |
|---|---|
| თემატიკა: | T Technology > T Technology (General) |
| ქვეგანყოფილება: | Faculties/Schools > School of Natural Sciences and Engineering |
| განმათავსებელი მომხმარებელი: | Professor Avtandil Tavkhelidze |
| განთავსების თარიღი: | 05 მაისი 2014 12:52 |
| ბოლო ცვლილება: | 02 აპრილი 2015 08:13 |
| URI: | http://eprints.iliauni.edu.ge/id/eprint/1415 |
Actions (login required)
 |
ობიექტის ნახვა |
